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Lpi 306-300日本語 試験シラバストピック:

Lpi LPIC-3 Exam 306: High Availability and Storage Clusters (306-300日本語版) 認定 306-300日本語 試験問題：

1. Ceph の高可用性の側面をどのように構成できますか?

A) ストレージ プールのレプリケーションと消去コーディングを構成します。
B) ミラーリングと同期を使用して MDS インスタンスを構成します。
C) OSD の冗長性とフェイルオーバー メカニズムを有効にします。
D) CRUSH マップを調整して複数の MON ノードを含めます。

2. ハードウェア障害の監視における smartd の役割は何ですか?

A) ストレージデバイスの SMART 値を監視します。
B) 定期的にディスクチェックをトリガーします。
C) システムの CPU 使用率を監視します。
D) システムのメモリ使用量を監視します。

3. nmcli コマンドを使用して、ネットワーク ボンディング インターフェイスのステータスと構成を確認するにはどうすればよいですか?

A) nmcli インターフェース ボンディング
B) nmcli ボンディング ステータス
C) nmcli ボンド ショー
D) nmcli ボンディングを表示

4. DRBD クォーラムとスプリット ブレイン ハンドラーの目的は何ですか?

A) DRBDデバイスの健全性とステータスを監視する
B) 自動回復とエラー処理を設定する
C) スプリットブレイン状況を検出して解決する
D) DRBDが使用するレプリケーションモードを管理する

5. ネットワーク インターフェイスで VLAN を構成するにはどうすればよいですか?

A) 適切なオプションを指定した nmcli コマンドを使用します。
B) VLAN パラメータを指定して ifenslave コマンドを実行します。
C) スイッチ設定で VLAN を設定します。
D) /etc/network/interfaces ファイルを変更します。

質問と回答：